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簡(jiǎn)要描述:ST-9302型局部放電檢測(cè)儀該儀器具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)試的試品范圍廣、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。并采用*的抗干擾組件和*的門(mén)顯示電路,抗干擾能力強(qiáng),并具有四種高頻橢圓掃描,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開(kāi)關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試??晒┲圃鞆S、科研部門(mén)、電力部門(mén)現(xiàn)場(chǎng)使用。
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ST-9302型局部放電檢測(cè)儀該儀器具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)試的試品范圍廣、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。并采用*的抗干擾組件和*的門(mén)顯示電路,抗干擾能力強(qiáng),并具有四種高頻橢圓掃描,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開(kāi)關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試??晒┲圃鞆S、科研部門(mén)、電力部門(mén)現(xiàn)場(chǎng)使用。
ST-9302型局部放電檢測(cè)儀技術(shù)指標(biāo):
1.可測(cè)試品的電容范圍:6pF~250uF
2.檢測(cè)靈敏度及允許電流(見(jiàn)表1)。
3.橢圓掃描時(shí)基
(1) 頻率:50、100、150、200、400Hz
(2) 旋轉(zhuǎn):以30度為一檔,可旋轉(zhuǎn)120度。
(3) 工作方式:標(biāo)準(zhǔn)-擴(kuò)展-直線(xiàn)。
(4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍:13~275V。
4.顯示單元
采用100×80mm矩形示波管,有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
5.放大器
(1) 3dB低頻端頻fL:20、40KHz任選。
(2) 3dB高頻端頻率fH:200、300KHz任選。
(3) 增益調(diào)節(jié):粗調(diào)6檔,檔間增益差10倍±5%。
(4) 細(xì)調(diào)范圍:>10倍。
(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱(chēng)性:<5%。
6.時(shí)間窗
(1) 窗寬:5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。
(2) 窗位置:每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
(3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。
7、脈沖峰值表
(1) 線(xiàn)性指示:0~10*不大于5%。
(2) 對(duì)數(shù)指示:1~10*不大于5%。
注意事項(xiàng):
1.在試驗(yàn)加壓操作時(shí),試驗(yàn)人員必須仔細(xì)而全面地檢查一遍線(xiàn)路,以免線(xiàn)路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線(xiàn)是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線(xiàn)被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2.對(duì)于連接線(xiàn)應(yīng)避免將*暴露在外,防止*電暈放電,尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn),必要時(shí)要加粗高壓連接線(xiàn)及加裝防電暈罩,減小因場(chǎng)強(qiáng)過(guò)高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3.在試驗(yàn)過(guò)程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多,此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿(mǎn)刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿(mǎn)刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí),再將增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測(cè)量值。
4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開(kāi)關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時(shí)針時(shí),量程縮小十倍。
5. 試驗(yàn)完畢后,應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。
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